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I-V曲线会骗人？ESD测试中的这些坑你别踩 2025-09-01
   对于集成电路产品而言，静电放电敏感度测试是基本要求。而在芯片的静电放电保护设计方面，对I-V（电流-电压）曲线加以分析，可以揭露一系列关键 ...
(186)次阅读|(0)个评论
从微光到真相：EMMI技术如何破解ESD失效的 “达芬奇密码” 2025-08-25
Emission Microscopy (EMMI, 微光显微镜) 是一种基于光子发射探测原理，用于半导体失效分析的非破坏性检测技术。其核心原理是通过高灵敏度探测器（如深制冷CCD ...
(248)次阅读|(0)个评论
Foundry ESD方案“万事大吉”？ ——芯片可靠性挑战与ESD防护：从代工厂方案到定制化治本之道 2025-08-12
在现今这个高度数码化的时代， 芯 片已经是电子产品的中心。不管是在智能手机，汽车电子，或者是工控系统中，它的可靠度都决定着一个产品的工作稳定度 ...
(358)次阅读|(0)个评论
芯片ESD保护设计：新手工程师避坑指南 ——五大高频失误解析 2025-08-11
静电放电（ ESD）犹如芯片的“隐形刺客”，一次微秒级的能量释放足以摧毁昂贵的集成电路。虽然ESD防护设计是芯片可靠性的生命线，但工程师，尤其是新手，在 ...
(328)次阅读|(0)个评论
ESD与内部电路的协同设计：芯片可靠性的基石 2025-08-04
在现代集成电路（IC）设计中，ESD（静电放电）与内部电路的协同设计已成为不可或缺的一环。ESD事件（如人体放电HBM、机器放电MM、充电器件放电CDM）可在极短时 ...
(208)次阅读|(0)个评论
SCR - ESD 保护杀手锏 2025-07-31
在集成电路的设计与应用过程中，静电放电（ESD）就像潜藏的 “电路隐患”，一直威胁着芯片的可靠性和稳定性。ESD瞬间产生的超高电压和超大电流，能轻松击穿芯 ...
(433)次阅读|(0)个评论

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