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GDS scan

热度 1已有 293 次阅读| 2024-2-16 14:54 |个人分类:日记|系统分类:芯片设计

芯片TO前会进行一些IP merge等工作，所以后期再通过查看当时export的log文件来检查所使用的layer 层次信息并不能准确反应GDS/OAS中的数据内容。

另一方面TO前工艺厂也会要求提供design中使用的device 和需要的mask layer，这也要基于真实的GDS/OAS中的层次数据来填写。防止人为失误导致必要层次缺失和额外禁用层次。提交给fab前一定需要做的一项检查。例如，以前遇到项目不使用DNW 层，在项目TO前检查出某IP中DNW 没有处理干净。导致IP需要重新处理验证临时工作量增加。

对于design 中使用了哪些类型的device，我们一般都可以从lvs的report 中提取出来抽取到的device。前提lvs pass。但对于所用到的layer信息，比较难从验证数据中取到。（之前写过用calibre 的 query和Yield server也是可以的，只是数据使用svdb和dfmdb）

下面写了个集成在CC上的工具。其原理是后台调用drv command来抽取layer number 信息，然后基于给定的参考信息，分析是否有使用到禁用层。并输出一份层次使用情况的报告。

如下在custom compiler 的console中source 下面脚本，生产如下对话框。选择oas 或gds格式数据，选择对于的layer map文件。下面提供了一个输入list框，用户可以把禁用的层次，或特殊必要layer number 输入。便于后面对比检查。