芯片测试类型 2019-07-02

CP测试：chip probe（芯片探针），通过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行性能及功能测试,有时候这道工序也被称作WS(Wafer Sort)，是对一些基本器件参数 的测试 ...

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自己的脚本 2018-08-22

#====================================== #step 1: logical library settings #====================================== #set SEARCH_PATH    ...

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综合脚本-top.tcl 2018-08-20

//source the fsm_moore.tcl and print the process to terminal & compile.log redirect -tee -file ${WORK_PATH}/compile.log {source -echo -verbose fsm_ ...

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综合脚本-fsm_moore.tcl 2018-08-20

//step 1: read & elaborate the RTL file list set TOP_MODULE top analze -format verilog elaborate $TOP_MODULE -architecture verilog current ...

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UART发送器 2018-08-17

module UART_XMTR #(parameter word_size=8)(  output       Serial_out,  input    Data_Bus, &nbs ...

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UART接收器 2018-08-17

//UART接收器 module UART_RCVR #(parameter word_size=8,half_word=word_size/2)(  output     RCV_datareg,  output  &n ...

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