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STI、LOD与WPE概念:减少或避免WPE/STI效应对IP模块设计的影响 2022-04-26
随着深亚微米工艺的发展,CMOS制造工艺对设计的影响也越来越大。在0.18um以前都可以忽略的工艺影响,在工艺一步一步发展的情形下,制造工艺所带来的影响变成 ...
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版图可靠性方面的一些概念 2022-04-26
电迁移 EM(electromigration) 电迁移(EM)是微电子器件中主要的失效机理之一,电迁移造成金属化的开路和短路,使器件漏电流增加。在器件向亚微米、深亚微 ...
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