baozidepipi的个人空间 https://blog.eetop.cn/296085 [收藏] [复制] [分享] [RSS]

空间首页 动态 记录 日志 相册 主题 分享 留言板 个人资料

日志

分享 STI、LOD与WPE概念:减少或避免WPE/STI效应对IP模块设计的影响
2022-4-26 15:30
随着深亚微米工艺的发展,CMOS制造工艺对设计的影响也越来越大。在0.18um以前都可以忽略的工艺影响,在工艺一步一步发展的情形下,制造工艺所带来的影响变成了芯片设计中不可忽视的因素。本文诠释了制造工艺的两个重要效应:STI、WPE。通过对两种效应的分析,提出了在芯片设计阶段考虑它们的必要性。特别是针对IP模块级 ...
4368 次阅读|0 个评论 热度 13
分享 版图可靠性方面的一些概念
2022-4-26 15:13
电迁移 EM(electromigration) 电迁移(EM)是微电子器件中主要的失效机理之一,电迁移造成金属化的开路和短路,使器件漏电流增加。在器件向亚微米、深亚微米发展后,金属线的宽度不断减小,电流密度不断增加,更易于因电迁移而失效。因此,随着工艺的进步,EM的评价备受重视。 导致电迁移的直接原因是金属原子的移动 ...
4396 次阅读|4 个评论 热度 40
  • 关注TA
  • 加好友
  • 联系TA
  • 0

    周排名
  • 0

    月排名
  • 0

    总排名
  • 0

    关注
  • 6

    粉丝
  • 1

    好友
  • 39

    获赞
  • 4

    评论
  • 290

    访问数
关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-3-29 09:32 , Processed in 0.013098 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
返回顶部