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分享遇到奇怪的latch up现象: 2016-8-4 09:56; 在I/O库的测试中发现了latch up现象，testchip当中有I/O cell， power clamp和gournd cell，因为该库是应用1.8V的device工作在3.3V power supply下，所以所有器件都是叠管结构，其中power clamp cell的放电通路是两个叠在一起的NMOS。测latch up的过程中从I/O（此时I/O处于高阻态）的pad ...; 4066 次阅读|0 个评论

qinyuwenzhu

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