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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网) › 日志

日志

分享 Asic设计学习总结-前言: tfpwl_lj 2018-3-7 19:44; 前文稍加详细的介绍了芯片设计流程的正向流程和反向流程。由于当时的经验十分有限，所以对于正向设计，特别是对于从 RTL 级代码开始的设计介绍得不是很清楚。经过这一段时间的学习，对于从 RTL 级代码开始的 Asic 芯片设计有了更多的认识，现在总结一下，一方面给自己整理思路，另一 ...; 1791 次阅读|0 个评论

分享电路图设计输入总结: tfpwl_lj 2017-5-18 19:29; 前文《芯片设计流程（七）——正向设计1》里仅仅只是提到了芯片正向设计的 RTL级设计输入的流程，并未介绍电路图设计输入的流程，现根据最近的学习，来做一下总结。集成电路设计有全定制和半定制之分，所谓全定制，即要从MOS管器件、版图级别开始设计电路，真正是做到 ...; 2518 次阅读|0 个评论

分享芯片设计——综合: tfpwl_lj 2017-5-17 19:44; 本文是根据《综合与Design Compiler》文章，写就的一篇关于综合的简要总结，供自己整理思路之用。算是对前文《芯片设计流程（八）——正向设计2 》中的综合分析做一个进一步的展开说明。什么是综合？综合就是将RTL级verilog代码用Design Compiler 工具转换/映射成用基础门级单元表示 ...; 4102 次阅读|0 个评论热度 3

分享芯片设计补篇（十一）——工艺文件说明: tfpwl_lj 2017-5-17 18:56; 本文章仅为个人经验总结。在芯片的设计重要设计环节，像综合与时序分析，版图绘制等都需要用到工艺库文件，而大家往往又对工艺文件缺乏认识，所以导致想自学一些芯片设计的东西就显得很困难。例如，没有工艺版图库文件，学习版图设计就是纸上谈兵。这篇文章主要介绍一下工艺库相关的知识。 &nb ...; 3559 次阅读|1 个评论

分享芯片设计副篇（十）——单片机/FPGA开发流程2: tfpwl_lj 2017-5-17 18:56; 本文章仅为个人经验总结。在芯片的设计过程中，经常会利用到单片机和FPGA用于芯片的CP测试和应用开发，因此，也就有了关于单片机/FPGA开发的一些经验，不全面，仅为个人经验。从测试实例的角度来讲述开发流程。一、总体规划。芯片CP测试的目的很简单，就是 ...; 2095 次阅读|1 个评论

分享芯片设计副篇（九）——单片机/FPGA开发流程1: tfpwl_lj 2017-5-17 18:55; 本文章仅为个人经验总结。因芯片设计的CP测试开发和芯片的应用开发，也有了一些关于单片机与FPGA开发的经验，现总结如下。; 1583 次阅读|0 个评论

分享芯片设计流程（八）——正向设计2: tfpwl_lj 2017-5-17 18:55; 本文章仅为个人经验总结。一、总体规划。随着集成电路设计规模的不断扩大，出现了很多成熟的常用设计模块，也被成为IP核，现在芯片正向设计，不再是完全从0开始，都是基于某些成熟的IP核，并在此基础之上进行芯片功能的添加。真正从0开始设计的芯片，不是没有，而是成本太高，企业无 ...; 5258 次阅读|2 个评论热度 6

分享芯片设计流程（七）——正向设计1: tfpwl_lj 2017-5-17 18:54; 本文章仅为个人经验总结。正向设计其实和反向设计差别在于设计部分，其余部分的流程基本相同。正向设计的设计部分由于是原创，所以会使用很多的工具。反向设计，很多东西不必去验证，所以工具软件也就不会用到那么多。 ...; 1791 次阅读|0 个评论

分享芯片设计流程（六）——反向设计4: tfpwl_lj 2017-5-17 18:54; 本文章仅为个人经验总结。八、CP测试开发。根据测试规范，可以选定所需要的测试工具以进行整个测试环境的搭建工作。我所知道到用于芯片测试的测试仪有JUNO DTS-1000，ASL1000，V777，STS8200等。每一种测试仪适用于不同种类的芯片测试，测试仪主要分为数字测试，模拟测试，数模混合测试 ...; 2214 次阅读|0 个评论热度 2

分享芯片设计流程（五）——反向设计3: tfpwl_lj 2017-5-17 18:53; 本文章仅为个人经验总结。四、电路整理。在版图提取完毕之后，下一个步骤就是电路整理。提取完的电路图是混乱的，没有层次关系。那么如何将其整理成具有层次关系，让人一看就懂呢？1、这就涉及到有关芯片的一些常识了。芯片分为数字芯片和模拟芯片，但 ...; 3916 次阅读|7 个评论热度 5

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