日志
芯片DFT之一天一道面试题_D5
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什么叫做Test ready Compile？为什么要做test ready compile？
test ready compile即使在综合时compile -scan 这样综合就会将普通的register替换成scanable的registers，方便在insert DFT时将能上chain的cells通过si pin进行连接。当你执行网compile -scan后report_scan_state就会报告说已经test ready了。
这里面要注意的就是如果综合的过程中你用了多次compile，那么如果第一次加了-scan，那么后续的compile也要加上这个选项。
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