Clock gating cell 在dft的过程中如何连接？连接scan mode还是scan enable？有什么不同？

在IC综合flow里面为了去优化功耗，会在clock网络上面插入ICG cell减少clock消耗的动态功耗，在Scan时，需要考虑到这些ICG cell的clock传输情况，把普通的ICG cell替换成带有测试控制pin的ICG，保证在scan shift阶段，scan clock能传到registers的clk点。

对于这些scanable ICG cell TE pin的连接，可以通过命令进行设置：

set_dft_configuration –connect_clock_gating <enable | disable>

set_clock_gating_style –control_signal  <scan_enable | test_mode>

那么TE pin到底连接哪个信号？怎么选择？一般按照下面的几点来考量：

1. 从E pin前面的fault考虑：

   a、TE pin建议连接scan_enable, 那么在shift阶段可以有TE为1，保证clock能传输到scan chain上的regsters的clock pin，有稳定的clock，在capture 阶段TE为0，ICG的控制器交给Epin，那么Epin前的组合逻辑的fault就可以被coverage到，提高coverage。

   b、如果发现ICG的类型不是我们常见的类型，这种类型可能会导致scan shift阶段miss clock pulse的情况，那么需要连接scan mode。（这种类型在后续会给大家介绍）

2. 从test coverage和fault coverage的角度来分析：

   这两个coverage在计算时分子相同，分母不同，如果他们相差很大，重点分析一下是不是ICG的接法，分析一下untestable的fault中的RE/uu/BL等fault。

3. test coverage要是特别低：

   这种情况重点怀疑ICG的TEpin在连接了scan_enable后，Epin前面的组合逻辑上的fault点是不是不可控或不可观测，那么可能导致在capture阶段传过来的clock为不定态，从而影响了后面的clock，那么会导致很多逻辑无法测试，导致coverage很低。

4. 除了从测试架构的角度来分析，还要从PPA的角度以及timing方面对ICG进行分析。