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-------------------2023/0809----------------------------------------------------
CDM:(Charged Device Model):充电器件的放电模型,此模式是指晶片先因磨擦或其他因素而在內部累积了静电,但在静电累积的过程中並未被损伤。 当此带有静电的晶片在使用時,其pin脚碰触到接地面或与其他材料摩擦,晶片內部的静电便会經由pin脚自晶片內部流出來,而造成了迅速放电的現象,导致器件被损坏。
HBM:(Human Body Model):人体静电放电模型,人体会与各种物体间发生接触和磨擦,又与元器件接触,所以人体易带静电,也容易对元器件造成静电损伤