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SPD采样鉴相器

已有 1035 次阅读| 2023-12-18 15:39 |系统分类:芯片设计

SPD采样鉴相器

1. 为什么要引入SPD

PLL噪声可分为带内和带外两部分,带外噪声由VCO占主导,带内噪声由Refclk、Divider、PFD+CP占主导。

传统电荷泵PLL中带内噪声主要由PFD+CP贡献,由于分频器的作用,噪声会被放大N^2^倍到输出

且PFD鉴相死区的存在使PFD+CP本身噪声贡献也会比较大。所以在通常情况下,

传统电荷泵PLL带内噪声一般很难优化。在超高频RFIDPLL中将环路带宽做的很小,来抑制带内噪声,

但这会增加锁定时间且VCO噪声无法被充分抑制,芯片面积也会增加。


SPD即采样鉴相器,也有SSPD(Sub-SamplingPhase Detector)即亚采样鉴相器两者都是基于采样原理,

区别在于

SSPD是用refclk直接采样VCO输出(低采高,所以称为亚采样)

SPD是用refclk采样VCO经N分频后的fbclk。


参考文献[3-5]给出的亚采样锁相环(SSPLL)结构如图1所示,可以在带宽较大时实现低带内噪声。SSPLL由采样环和锁频环(FLL)构成,在环路锁定时,仅有采样环工作,由于分频器不参与环路工作,SSPD和CP噪声不会被放大N^2^倍且鉴相器分辨率也很高。



数据来源:电子发烧友

https://www.elecfans.com/d/2283710.html


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