随着数字通信和大数据的不断发展，误码率测试变得越来越重要。高性能误码率测试仪作为一种关键的测试设备，可以对数字信号进行高速、高精度的误码率测试，广泛应用于通信、数据中心、半导体等行业。
M8040A误码仪系统当前不仅在上游IP和顶层芯片企业的PCIe5.0/6.0早期研发项目上得到广泛应用，在广大系统级客户也已经在PCIe4.0系统上得到广泛应用。M8040A误码仪系统甚至还能向下兼容支持PCIe3.0测试，并支持U.2/M.2接口测试。

# M8040A 64Gbaud #高性能比特误码率测试仪

M8040A 是一款高度综合的比特误码率测试仪（BERT），适用于物理层表征和合规性测试。它支持 PAM4 和 NRZ 信号，以及高达 64 GBaud 的数据速率，覆盖 400 GbE 标准的所有特性。

许多流行的互连标准使用了 PAM4 和 NRZ 数据格式。M8040A 可对这些标准进行接收机（输入）测试，如下所示：PCIe 5、TBT3、400 GbE、50/100/200/400/800 GbE、OIF CEI-56G 和 CEI-112G、64G/112G 光纤通道、Infiniband-HDR，以及芯片间、芯片与模块、背板、中继器和有源光纤电缆的专有接口。

主要特点：

• 2 至 64 Gbaud 的 PAM4 信号数据速率

• 真正的实时 PAM4 误码检测能力，数据速率高达 58 Gbaud

• 内置去加重、分析仪均衡和时钟恢复功能

• 整合和校准过的抖动注入：RJ、PJ1、PJ2、SJ、BUJ 和时钟/2 抖动

• 每个模块有两个码型发生器通道，用于仿真干扰源通道

• 8/16/32/64 GT/s PCI Express® 交互式链路训练和 SKP OS 过滤

• 可以通过算法生成 PRBS、QPRBS 码型，也可以使用保存在存储器中的码型或是通过码型序列发生器生成的码型

• 用于 PAM4、Gray 编码、FEC 编码、预编码器和误码分布分析

• 所有选件和模块均可升级

• 提供真正的误码分析功能，能够提供准确且可重复的测量结果，从而优化您的器件的性能裕量

目标应用：

M8040A 专为研发和测试工程师设计，帮助他们表征芯片、器件、收发信机模块和子组件、电路板以及系统。这些被测器件和系统配有串行 I/O 端口，数据速率高达 32 GBaud 和 64 Gbaud，主要在服务器、计算、数据中心和通信行业中使用。

许多流行的互连标准使用了 PAM4 和 NRZ 数据格式。M8040A 可对这些标准进行接收机（输入）测试，如下所示：PCIe 6.0/5.0/4.0、TBT3、400 GbE、50/100/200/400/800 GbE、OIF CEI-56G 和 CEI-112G、64G/112G 光纤通道、Infiniband-HDR，以及芯片间、芯片与模块、背板、中继器和有源光缆的专有接口。M8040A 64 Gbaud BERT 的码型发生器可提供纯净的 32 和 26.5625 Gbaud PAM4 输出信号。