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生成式人工智能的兴起毫无疑问撬动了算力基础设施板块,AI 服务器对底层数据传输速率和延时要求非常苛刻,需要更高速率的光模块匹配。随着800G以及后续1.6T等速率的升级,将带动光模块相关技术路线的前瞻研发与迭代升级。CPO和LPO等新一代技术在降低光模块成本及功耗上作用显著,备受关注。
是德科技紧跟时代步伐,推出数据中心800G/1.6T光电测试、太比特相干、高速线缆测试、LPO测试、硅光器件测试等解决方案。
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800G/1.6T网络层测试解决方案
800 Gb/s 乃至更高的 1.6 Tb/s 数据速率将 PAM4 信令性能提升至物理极限。工程师通常需要耗费几个月的时间,想办法克服高速串行设计所带来的挑战。通过综合通道和电磁仿真,您可以大幅提升设计效率。PathWave 先进设计系统中的信道仿真器和 IBIS-AMI 模型,让您仅需几分钟便能准确仿真包含抖动、均衡、时钟和数据恢复等特性的复杂信号链路。是德科技创新的电-光-电(E-O-E)解决方案使您能够在给定的比特误码率目标范围内仿真自己的设计,从而对光链路进行端到端分析。
Keysight IxVerify 可提供虚拟化的以太网设计验证解决方案,降低使用专业化硬件的成本,同时提高灵活性。
是德科技方案主要包含新产品Aresone800,支持主流QSFP-DD/OSFP类型端口以及10G-800G的NRZ与PAM4调制。值得一提的是,该产品采用新一代的散热设计可以支持高耗能的800G-ZR在内长稳测试。
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线性直驱光模块(LPO)测试解决方案
光模块功率随速率不断上升。LPO 成为解决功耗过高的方案之一。线性驱动可插拔光学器模块(LPO)是一种收发器封装技术,运用线性直驱技术,使用具备高线性度和EQ功能的跨阻放大器(TIA)和驱动芯片(DRIVER)取代dsp,主要适用于数据中心等短距离传输场景。
(1)低功耗:相比传统可插拔光模块,LPO 光模块功耗降低约50%。采用 Linear-drive 方案后,硅光和VCSEL的功耗也下降了约50%,同时还能减少组件内的发热现象;
(2)低成本:DSP的价格较高,在400G光模块中,DSP的BOM成本约占20-40%,而在 LPO方案中,Driver和TIA内集成了EQ功能,虽然成本会稍有上涨,但整体上光模块成本仍大幅下降;
(3)低延时:通过去除DSP芯片,采用高线性度、具备EQ功能的TIA和 DRIVER 芯片,系统可以减少信号复原时间,从而大幅降低延迟,实现皮秒级别的延迟时间;
(4)可插拔:在LPO方案中,光模块的封装形式没有显著改变,仍采用可插拔设计,方便插入和拔出。
是德科技方案主要包含新一代任意波形发生器M8198A及光采样示波器DCA-M,支持符合CEI-LINEAR规范要求的EECQ和CEQ测试。不仅可以支持LPO设备和模块的研发调试和生产测试需求,还可以对LPO光链路的物理层和网络层性能进行表征。
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高速线缆测试解决方案
是德科技的高速线缆测试解决方案提供了全面的测试工具和自动化平台,以应对高速数字线缆测试的复杂性。这些解决方案包括网络分析仪的TDR模式、多端口模块化测试方案等,能够覆盖从单端同轴线缆到多路差分线缆的测试需求,支持USB4、USB3.x、USB2.0电缆合规性测试,并实现多达20端口的全自动测试。此外,是德科技还推出了业界首个USB-C高速互连测试解决方案,实现了手动端口设置过程和USB-IF标准合规工具设置的自动化,有效降低了多端口测试的成本和时间。通过这些解决方案,是德科技帮助客户提高测试效率,确保高速线缆的性能和合规性。
是德科技方案主要包含高性能误码仪M8040A,高带宽采样示波器N1000A(含N1060A模块)以及Aresone 800测试系统,支持符合IEEE 802.3ck C2M and InfiniBand标准的高低速有源无源光缆测试。
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太比特相干测试解决方案
是德科技的太比特相干测试解决方案提供了一套全面的测试工具,用于生成和分析复合调制光信号,支持高达1 Tb/s的测试速度,满足当前和未来的需求。该解决方案包括多通道任意波形发生器,用于合成复合调制信号,以及光调制分析仪,提供对复合调制光信号的深入分析,以确定信号质量或评估IQ调制和解调的元器件。
是德科技方案主要包含最新一代光调制分析仪N4391C及高性能任意波形发生器M8199B,支持O band, C+L band相干光通信模块/系统的测试以及220G波特率级别QPSK/QAM信号分析。
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200G硅光芯片测试解决方案
硅光凭借低功耗、大规模集成和高速调制等优势进入市场,目前硅光对III-IV族正从过去的追赶态势已经形成并驾齐驱。LightCounting高级分析师Tom William表示,硅光已经成为主流技术,到2028年,将从2022年25%的市场份额增至43%,目前所有领先的供应商都使用硅光技术。
是德科技方案主要包含光器件分析仪N4372E,支持单波200G的光电器件带宽测试,波长范围支持从1260nm到1620nm,分析带宽高达110GHz。