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OCC的作用以及DFT
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OCC（on-chip clock）：用来做DFT测试，基本原理是在 scan shift 模式下， 选通慢速的ATE 时钟，load 或 unload 扫描链； 在 capture 模式下，对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch 和 capture clock 进行at-speed 测试。
全速测试就是让芯片工作在自己高倍时钟频率上，这个频率往往是要高过ATE的时钟的。OCC就实现此功能。
简单了解一下DFT知识：
主要有三种基本测试：
1， 边界扫描测试（boundary scan test）：测试目标是IO-PAD，利用jtag接口互联以便测试。
2， BIST：测试MEM，MBIST。
3， 扫描测试（APTG）：测试目标std logic。
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