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OCC(on-chip clock):用来做DFT测试,基本原理是在 scan shift 模式下, 选通慢速的ATE 时钟,load 或 unload 扫描链; 在 capture 模式下,对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch 和 capture clock 进行at-speed 测试。
全速测试就是让芯片工作在自己高倍时钟频率上,这个频率往往是要高过ATE的时钟的。OCC就实现此功能。
简单了解一下DFT知识:
主要有三种基本测试:
1, 边界扫描测试(boundary scan test):测试目标是IO-PAD,利用jtag接口互联以便测试。
2, BIST:测试MEM,MBIST。
3, 扫描测试(APTG):测试目标std logic。