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新副本-SAR-ADC设计:艾伦模拟集成电路设计CP10_250729_250805

已有 169 次阅读| 2025-7-29 22:54 |个人分类:ADC|系统分类:芯片设计

第10章 数模转换器与模数转换器

10.1    数模转换器简介及特性

    1)DAC的静态特性

            LSB:least significant bit(最小有效位数)、分辨率

            量化噪声:

            DR:dynamic range(动态范围)FSR与分辨率的比值,为2N,取分贝的形式,为6.02NdB(常记为6NdB)

            SNR:signal to noise ratio(信噪比)定义为满刻度值的均方根值与量化噪声均方根值的比(翻译版本有歧义,需要结合后文的公式SNR=VOUTrms/(FSR/2N120.5进行理解)
            这里有一段关于DAC性能的描述不好理解:理想N位DAC的动态范围是6.02NdB,但考虑到量化噪声的存在,所需要的动态范围必须

增加1.76dB(个人理解,这里DR的定义和SNR的定义产生冲突,DR是以绝对物理量的方式位数进行定义,但是SNR是以信号的能量

进行定义,由此产生的变化是:SNR相比DR,分子与分母同时取了均方根值,导致实际的有效位数变小

            ENOB:effective number of bits(有效位数)定义公式如下:ENOB=(SNRactual-1.76)/6.02

            

            DAC的(静态)转换误差:INL、DNL、Gain Error、Offset Error、Monotonicity Error

            INL:integral nonlinearity(积分非线性)实际的有限精度特性理想的有限精度特性在垂直方向上的最大差值(该值不一定出现在

满量程电压附近)INL可以细分为三类:绝对、最佳直线和端点线性

            DNL:differential nonlilnearity(微分非线性)垂直跨度上测量的相邻电平的差的度量,阶梯尺寸的度量(个人理解,理想DAC的

DNL应该为0)(个人理解,DNL大于-1LSB,DAC都是单调的;只要DNL小于或等于-1LSB,即说明存在某一个阶梯在码值增加后,输出电

压维持不变或者下降,那么该DAC肯定非单调

            Gain Error:gain error增益误差

            Offset Error:offset error 失调误差

            Monotonicity Error:单调性误差

    2)DAC的动态特性(先忽略)

    3)DAC的测试(这一部分的内容可以直接看Data Conversion Handbook的第五章Testing Data Converters,后者也是Sigma 

delta66老师的推荐阅读内容,后面会专门单独开一个日志来总结

            输入-输出测试

            频谱测试

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10.2    并行数模转换器

    1)电流按比例缩放DAC(先忽略)

            类似反相放大器的结构

            R-2R梯形电阻网路

            二进制权电流漏

    2)电压按比例缩放DAC(重点)

            开尔文分压器:实现N位转换,需要至少2N段电阻串

            优势:单调(不存在011~~11切100~~00时的非单调性)

            劣势:

            开关树的设计可以采用直接编码(每一比特控制一路互斥开关,不同比特的开关串联)也可以采用独热编码(N-2N),(开关树的设计在Franco Maloberti    的Data Converters中有详细介绍)

            推导电压按比例缩放DAC的DNL和INL:假设最坏INL出现在中点(实际从INL的数学公式分析可以确定确实在中点INL最差:中点一

以下所有电阻取最大正偏差,中点以上电阻取最大负偏差,则DAC总阻值不变,中点处获得最大INL)

            INL公式为:{2N-1(R+ΔR)*VREF   /[2N-1(R+ΔR)+2N-1(R-ΔR)]}-VREF  /2=ΔR/(2R)*VREF     

            (根据前面的描述,INL的单位是LSB,因此上式采用实际的中点电压值和理想的中点电压值作差,就最后????我原来在想什么来着)

    3)电荷按比例缩放DAC(这里的DAC和)

            电容阵列:并联电容,从C、C/2、C/4一直到C/2(N-1),以及最后的络端电容(不同工具书的对此电容的描述应该是有差别的,但其

该电容的目的是令整个电容阵列符合2进制转换;)

            电容阵列可以简单地看成是容性衰减器(电容分压器,需要注意这里是不需要采样的,电容阵列中的电容通过不同的码值分别连接在

参考电压VREF上)

            Vout=VREF*[Ceq/(2C-Ceq)],其中Ceq表示接在参考电压VREF上的电容总容值;


    


并行DAC性能小结









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10.3    并行数模转换器的扩展

            组合不同DAC的核心需求:降低匹配精度对面积的影响(如果采用2进制形式的匹配元件,面积随位数增加指数增长)

    1)相同缩放类型DAC的组合

            第一种:MSB DAC输出和LSB DAC缩放后的输出进行求和;(跳过)

            第二种:MSB DAC输出和LSB DAC输出进行求和,LSB DAC的输入(参考电压)需要缩放;(跳过)

    2)不同缩放DAC的组合

            

10.4    串行数字模拟转换器
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10.5    模数转换器的简介与特性

    1)ADC简介

    2)ADC的静态特性

    3)ADC的动态特性

    4)采样保持电路

    5)   ADC的测试
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10.7    串行模数转换器
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10.8    中速模数转换器


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