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分享浅谈At Speed testing中的故障模型: 2017-1-11 17:12; 天气 : 阴雨心情 : 高兴随着集成电路工艺技术的不断进步，今天的集成电路产品具有体积小，集成度高，性能好等特点。一个合格的集成电路产品不仅要实现特定的功能，更要在满足一定性能要求的前提下功能正确。而在130nm及以下的工艺中，人们越来越多的观测到这样一个问题：低频时钟的时候，制造出的芯片功能正确 ...; 个人分类: 文章|1537 次阅读|0 个评论

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