日志

分享浅谈At Speed testing中的故障模型: eecourse 2017-1-11 17:12; 天气 : 阴雨心情 : 高兴随着集成电路工艺技术的不断进步，今天的集成电路产品具有体积小，集成度高，性能好等特点。一个合格的集成电路产品不仅要实现特定的功能，更要在满足一定性能要求的前提下功能正确。而在130nm及以下的工艺中，人们越来越多的观测到这样一个问题：低频时钟的时候，制造出的芯片功能正确 ...; 个人分类: 文章|1548 次阅读|0 个评论

忆阻器、第三代半导体等半导体材料与器件讲坛(资料+视频）: EETOP联合泰克科技，专门创建了“半导体材料与器件科学”的专题网页，并精心准备了海量的干货素材，涵盖PDF文档、云上讲坛视频。

GMT+8, 2024-5-7 05:21 , Processed in 0.008210 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

站长推荐 /1