日志

how to increase the test coverage around memory

已有 1147 次阅读| 2012-10-28 16:55

一般设计中都存在大量的memory，我们需要对memory做MBIST，常用工具是menotr公司的mbistarchitect以及tessent。而memory在做atpg生成的过程中通常都是黑盒子。因为设计中的memory 通常都是采用厂家的memory compiler工具生成的一个rtl模拟模型。因此为了增加memory周边的影子逻辑的test coverage。我们需要增加bypass逻辑。Bypass逻辑生成可在软件里自动实现。但需增加两个控制信号test_clk和test_en。其中test_clk作为输入异或后的值送给一个触发器的时钟信号。而test_en作为输出mux的控制信号。当然为了避免旁路逻辑在关键路径上，我们可以在软件生成mbist控制逻辑时把频率设置高于（或等于）工作频率。