Mbistarchitecture产生各种类型的memory bist
1.
ROM由于只能读,所以不能任意的输入特定的测试向量,但是通过读出ROM内容,逐个地址比较的方法对于大容量的ROM非常的浪费时间,于是有人提供了一种算法,即读出一个地址,该地址的内容做校验(CRC?),校验值参与下一个地址的校验,扫描所有的地址之后得到一个最终的校验值,将这个值通过scan port shift出来进行比较。也可以内部比较这个值,输出fail/pass结果。请看这个例子。
model DROM (Q, CLK, CEN, A)
(
bist_definition (
)
以上是以mentor语法描述的ROM,我们产生其bist生成脚本
// rom_bist.do
reset state
load lib ../bist_model/DROM.vm
add memory model DROM
add memory model DROM_B3
add memory model IROM_B1
add memory model IROM_B1_MR
add memory model IROM_B2
add memory model IROM_B3
setup mbist algorithms Rom2
set design name controller -module SPROM_4096X64_bist
set file naming -bist_model ../result/SPROM_4096X64_bist.v
set file naming -connected_model ../result/SPROM_4096X64_bist_con.v
set file naming -testbench ../result/SPROM_4096X64_bist_tb.v
set file naming -script. ../result/SPROM_4096X64_bist.v_dcscript
set file naming -ctdl ../result/SPROM_4096X64_bist.v_ctdf
set file naming -wgl ../result/SPROM_4096X64_bist.v_wgl
run
save bist -verilog -script. -replace
exit –discard
// run_bist
mbistarchitect -bistgen \
-dofile ./rom_bist.do \
-logfile ./rom_bist.log -replace \
-nogui
运行run_bist即可得到ROM bist的rtl文件。
2.
SRAM是一种单口的静态RAM,可以读写,所以我们可以控制往RAM中写入的内容,然后读出来比较。这类bist算法很多,常用March2算法,可以检查address decoder faults (AF), stuck at faults (SAF),transition faults (TF), stuck open faults (SOF), inversion coupling faults (CFin), and linkedidempotent coupling faults (CFid)这些问题。
下面给出一个model的例子,运行脚本和ROM类似。
model SPRAM_512X32 (Q,CLK,CEN,WEN,A,D,OEN)
(
bist_definition (
)
3.DRAM
DRAM是双口的RAM,一般有两种类型,第一种是两套接口都可以完成读写操作,第二种是一套口专门读,另一套口专门写,所用的bist算法与SRAM相同。下面给出一个例子。
model DPRF_128X32 (QA,AA,CLKA,CENA,AB,DB,CLKB,CENB)
(
bist_definition (
)
总结:Mentor的工具在产生bist的时候比较强大,美中不足的是需要我们用它自己的语法来描述memory对象,不过好在其语法比较简单。所以model能不能写的符合要求,能不能与vendor提供的model一直十分的重要,也是要特别注意的地方。