热度 46| ||
之前做运放时我都会预设好静态工作点和宽长比,不管是用平方律公式还是gmid查找表,预设和仿真能很好的对应。但最近在做BG中的运放,一仿真发现偏差很大,甚至管子都不在饱和区。最开始我的惯性思维觉得之前这么算都可以,这次不行可能是工艺模型不准,但又觉得这才90nm工艺应该不至于吧。
琢磨了一圈才琢磨到电路本身上,这才注意到电路上下两侧的管子还比较符合预设,唯独中间的管子偏离很远,这才注意到这个工艺的VTH受衬偏效应很显著,Vth可能会比预估增加200mV,这才导致MOS处于线性区。
所以如果发现工作点显著偏离预设,应该检查所有的预设条件是否符合实际(Vdsat,VTH,VBIAS,IBIAS...)。若管子处于线性区,说明该管子的VGD和VTH的关系不满足饱和区的要求(PMOS:VDG<|VTP|,NMOS:VGD<VTH),所以基本上要么是这个管子的VTH不符合预期,要么就是它上下的管子VTH不符合预期(vdsat变化)导致这个管子VGD不够。
对于电流一定的情况下,本身预估工作在饱和区的管子实际工作在线性区时,会发现VGS会显著偏大预计值,所以Vdsat过大,VDS不满足饱和要求。这是因为为了提供相同的电流,线性区的管子需要更大的VGS,线性区电流和VGS-VTH成正比而饱和区和VGS-VTH的平方成正比。也可以说VGS更大的管子,饱和时ID更大,但由于电流一定,只能迫使其进入线性区才能减少电流满足KCL。
为了使线性区的管子进入饱和区,有两种方式,以NMOS为例子:1、增加VDS,这通常需要调节其上下的MOS的VGS来实现。2、增加线性区管子的宽长比:因为W/L增加,ID=unCox(W/L)(VGS-VTH)*VDS,其中ID、VDS(VD、VS被上下管子控制)一定,那么W/L增加,VGS-VTH降低,从而在VDS不变的情况下更容易饱和。
如果输出阻抗是上下并联的,可以注意看看是不是有一侧阻抗过低,上下不平衡。
运放的电流和AV有关,在W/L不变时,gm和ID的平方根成正比,所以gmro和ID的平方根分之一成正比,此时电流越大,增益越低。
注意电流镜的饱和条件要关注电流镜两侧是否饱和条件不一样。例如低压cascode电流镜如果只看右侧M3和M2来设置静态工作点可能会导致左侧不在饱和区,因为左侧会多一个限制条件。
SJWPRC: 利用VDG/VGD 与Vth的关系判断是否在饱和区是有局限性的,因为它默认Vdsat = Vgs - Vth (NMOS). 但其实并不尽然,这与模型pdk有关。建议还是直接用Vds和Vdsat比较 ...
Once.: 运放的电流和Av有关系,gm正比于电流的1/2次方,ro反比于电流,所以电流增大,宽长比什么的不变,增益会减小。