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为PCIe 5.0等下一代高速数字接口测试加油

已有 880 次阅读| 2022-7-11 09:44 |系统分类:其他

科技创新为人们的工作生活带来巨变，无论是企业级产品还是消费类电子产品，都要求更快的信息处理速度和更低的功耗，这就将设计裕量压缩到了极致。当今的实验室需要一流的测量和信号发生设备，以满足当前和未来测试需求。

是德科技的技术专家全面跟进JEDEC、USB、PCI-SIG、IEEE、OIF和MIPI等协会技术标准演进，凭借专业的知识提供全面符合标准的高速数字系统测试方案，其中以UXR高性能示波器为平台的Tx测试和以误码率分析仪为平台的Rx测试是测试方案中的重要组成。

开发下一代技术要求测试设备必须具有卓越的信号完整性。更宽带宽、更高 ENOB 和更低本底噪声，赋予您对自身设计更深刻的洞察力。是德科技的突破性技术能够帮助您应对更困难的测量和设计挑战。以PCIe为例，它从4.0发展到5.0，数据速率翻倍到32GT/s，提升测试平台的测试能力已经箭在弦上。

是德科技UXR0594A+M8040A 实现了PCIe 5.0高速接口测试平台升级，这也是益莱储客户最近的热门需求。信号进入示波器后，经过模拟前端包括衰减器、放大器、采样器，再进入到 ADC，示波器中所使用的半导体工艺、封装设计、互连设计，ADC 的垂直有效位数等的差异，会导致信噪比会存在差距。所以，降低仪器底噪、提升 ADC 的位数会为提升测量精度带来非常大的帮助，在足够采样率的条件下，这些性能超过了采用更高采样率对测量结果的影响。