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Scan technique (扫描链插入)的一些学习总结
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DFT引出了Scan technique
首先DFT的目的是利用辅助性设计对芯片的physical defects进行检测，方法是通过patterns来对physical defects对应的 fault model进行求解。而在复杂的电路中很难根据输入输出的关系来推断电路中的defects 位置。插入扫描链可以更好地观测和控制电路中的各个时序节点，从而通过扫描链更快速方便地实现对电路中的defects 进行检测（可以理解为将一个大的时序电路化简为很多个小的组合电路来求解）。
Scan technique的原理及过程
1.标准单元替换
即将标准的DFF转换为SFF，目前MUX-DFF是最常用的扫描结构。另外还有双端口clock scan，LSSD 电平敏感设计，但是很少用。
2.扫描链连接
没啥说的，就是连起来。
针对这个设计，DFF+ /DFF- 分别代表上升沿触发和下降沿触发的D触发器，如果在插扫描链的过程中要将他们连成一条链，该怎么办？会是如下的哪种状况呢？
正沿在前 负沿在后
负沿在前 正沿在后
根据DFT compiler 的结果应该是 负沿在前 正沿在后，可以进行以下分析：
假如我们想将 0101 从SI移入SO，两种情况会出现什么情况：
正沿在前 负沿在后
这种方案最终导致SF+2 和SF-1的值始终不变，所以不行，
负沿在前 正沿在后
这种方案比较合理。
2. 多时钟域
原理如上图所示，而时钟之间的关系大致可以分为以下两种：
①
②
分析方法和上面正沿负沿一样，就不再画图了。
实验环境1：该环境就是用来学习的。
工具：synopsys DC 2016.03，集成DFT compiler
对AES-128加密电路进行了扫描链插入，网表由dc综合生成。工艺库smic180
对应的源文件和工程,tcl命令，软件之类的需要可私。
环境2：用于FPGA上使用（我用来故障攻击的），网表由synopsys synplify pro 转化。
扫描链由自己用python写的脚本插入，包括向量的生成。
后面会开源对应的控制电路和脚本。
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