麦科信MOIP系列光隔离探头基于独家 SigOFIT™ 激光供电技术，MOIP系列拥有极高的共模抑制比，1GHz频段依然高达108dB,隔离电压高达85kV，底噪小于0.45mVrms，在其带宽范围内洞见信号的全部真相，是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。
 
一、核心性能参数 

带宽：100MHz-1GHz该系列通过梯度化带宽设计，能够满足从工业低频信号到5G高频射频信号的全频段测量需求。
共模抑制比（CMRR）：直流180dB，1GHz时108dB（MOIP1000P）。这一参数远超传统高压差分探头，能够在复杂电磁环境中有效抑制共模噪声干扰，确保测量信号的纯净度。
测试范围：±0.01V至±6250V（搭配衰减器）。通过适配不同规格的衰减器，MOIP系列光隔离探头可实现从微伏级的传感器信号到超高压的电力系统信号的全覆盖测量。
底噪：<0.45mVrms（全量程微伏级精度）。极低的底噪水平保证了测量数据的高准确性和稳定性，即使在测量微弱信号时，也能有效避免噪声干扰导致的误差。输入电容：最小1pF（测试GaN等器件无负载风险）。超小的输入电容设计显著降低了探头对被测电路的负载效应。

二、五大核心优势
1.卓越共模抑制，信号还原无失真
MOIP系列光隔离探头具备行业领先的共模抑制性能。在直流状态下，共模抑制比（CMRR）高达180dB；当频率提升至100MHz时，CMRR仍保持128dB；即使在1GHz高频段，也能稳定维持108dB。这一性能优势使其能够在复杂电磁干扰环境中，有效抑制共模噪声干扰，精准还原真实信号，确保测量数据的准确性与可靠性，成为验证其他电压探头测量结果真实性的可靠标准。
2.超宽频带覆盖，全场景精准测量
MOIP系列探头覆盖100MHz-1GHz超宽频带，能够满足不同行业、多样化场景的测试需求。在常规电路信号检测中，可提供稳定、准确的测量结果；在第三代半导体器件（如氮化镓、碳化硅）研发测试中，凭借其出色的频响特性，可精准捕捉纳秒级快速上升沿与下降沿信号，有效抑制高频共模噪声引发的震荡，呈现纯净、无杂波的信号波形，为半导体器件性能评估提供关键数据支持。
3.高精度测量性能，数据精准可靠
MOIP系列光隔离探头以高精度测量著称。其具备极佳的幅频特性，直流增益精度优于1%底噪低于0.45mVrms。经过5分钟预热后，零点漂移小于0.1%，增益漂移小于1%，确保长时间连续测量过程中数据的高度稳定性与准确性。无论是科研实验中的精密测试，还是工业生产中的质量检测，都能为用户提供坚实可靠的数据保障。
4.灵活量程调节，满足多样化测试需求
探头支持0dB（1X）与20dB（100mX）档位快速切换，并可通过搭配不同规格衰减器，实现从±0.01V至±6250V的宽范围差模信号测量，且在全量程范围内均可实现满量程输出，保证高信噪比。这种灵活的量程调节设计，使探头能够轻松应对从微弱信号到高压信号的各类测试场景，极大拓展了产品的应用范围，满足用户多样化的测试需求。
5.人性化操作设计，高效便捷易用
MOIP系列光隔离探头在设计上充分考虑用户操作体验，具备高效便捷的特点。产品响应迅速，上电即可进入测试状态；校准过程仅需不到1秒，且支持带载校准，无需断开测试连接，校准过程中Cali.键LED闪烁提示，校准成功时蜂鸣器发出一声提示音，校准失败则响三声，方便用户快速判断校准状态。
三、赋能专业领域测试
氮化镓器件测试安全高效
在氮化镓（GaN）器件测试中，MOIP系列探头凭借独特设计展现出显著优势。其测试引线短且采用同轴传输结构，探头输入电容最小仅1pF，能够最大限度降低对被测电路的负载影响，有效避免因测试导致的器件损坏风险，为氮化镓器件的研发与生产测试提供安全、可靠的解决方案。
广泛应用于多领域测试场景
作为电压测量的权威工具，MOIP系列探头可作为判定其他电压探头测量结果准确性与真实性的最终依据。同时，在电源设备性能评估、电流并联测量、电磁干扰（EMI）与静电放电（ESD）故障排查、电机驱动系统设计、功率转换器研发、电子镇流器测试，以及氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析等专业领域，均发挥着不可或缺的作用。
四、服务与支持
麦科信为MOIP系列光隔离探头提供完善的售后保障体系。探头主体提供1年保修服务，并支持延保；光纤与衰减器（赠品）也提供3个月质保，非人为损坏可免费维修