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日志

OCC的作用以及DFT

热度 5已有 448 次阅读2019-5-16 19:07 |个人分类:DFT以及OCC|系统分类:芯片设计| OCC, DFT

OCCon-chip clock):用来做DFT测试,基本原理是在 scan shift 模式下, 选通慢速的ATE 时钟,load unload 扫描链; capture 模式下,对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch capture clock 进行at-speed 测试

全速测试就是让芯片工作在自己高倍时钟频率上,这个频率往往是要高过ATE的时钟的OCC就实现此功能。

 

简单了解一下DFT知识:

主要有三种基本测试:

1,  边界扫描测试(boundary scan test):测试目标是IO-PAD,利用jtag接口互联以便测试。

2,  BIST:测试MEMMBIST

3,  扫描测试(APTG):测试目标std logic

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