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随着定制IC system-in-package(SiP)设计的发展,为多个IC在单一的设计环境中进行分析带来挑战。现在假设有一个DUT是基于工艺A,由于SiP设计的要求,有一些其他的模块是基于工艺B和C的设计,他们要被放到同一个chip中作为一个完整的system-in-package设计进行分析,如下图:
那么如何实现不同工艺在同一个模拟IC设计环境中进行分析?
该目的可以在ADE中通过设置MTS Options实现:
在MTS Options设置界面,设置某个block为MTS block,为MTS block单独设置model file和相应的model section.
其余block都使用global model file和对应的model section.
在Corners Setup界面,点击进入ModelFiles编辑界面, Click ‘Import from Tests’, 这个动作会自动导入global model file,不会导入MTS block对应的model file,
需要按顺序执行如下操作,
1. 在下面一行手动输入或browse to select MTS block对应的model file;
2. 在Test一栏双击,下拉选择All或者设置了MTS block的Test,例如在这个例子里,只有名为’AC’的Test设置了MTS block,因此在Test一栏双击下拉选择’AC’;
3. 在Block一栏双击,下拉选择对应的MTS block;
4. 最后点击右下角的OK即可。
回到Corners Setup界面,根据需要设置不同corner对应的global model section和MTS block model section.