日志
Register & Latch & SRAM比较
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Register， latch， sram对于数字IC设计工程师来说比较常用，这3者在不同的应用中有其需要：
Area Test
1. register 大 register r/w(coverage无法达到100%)
2. latch 中 register r/w(coverage无法达到100%)
3. sram 小 mbist (coverage 100%)
另，single port sram在电路处理时无法做到实时处理(需要cycle lantency)(eg. read timing --> set address -> set read -> set flag )；
Latch/register可做到实时处理；
register可采用scan DFF的方式来提高test coverage。
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