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DFT还是要依托于设计

已有 721 次阅读| 2019-9-8 09:24 |个人分类:DFT|系统分类:芯片设计

提到DFT(Design for test)大家都能随口而出它到底指的是什么，包括JTAG/SCAN/ATPG/MBIST这些东西之类的，由于DFT中设计很多跟网表以及后端相关的东西，目前在使用主流flow的很多大公司中DFT组都是跟后端组放在一块的，这样方便项目数据的获取和沟通，很多人就存在一个固话影响，那就是DFT只要跟后端一样跑跑flow然后递交相应的测试向量去测试就行了，但是从我目前几年的工作经验来看，DFT的根本还是应该依托于整芯片的电路应该怎么做，前端设计在DFT中还是占有很大的比重的，拿到一块芯片，我们首先要想清楚应该怎么测试它，测试时钟的分配，OCC应该怎么插，SCAN的分组，Memory的测试方案都会影响到IO的复用，我们应该综合考虑清楚项目立项时能够利用的测试机资源，然后再出测试方案，先拿这一版方案try一次流程，甚至说还要考虑到后期出向量的场景，怎么样能够更加有效的以更高的覆盖率来完成整芯片的测试，虽然说现在业内的很多工具都能把产生电路的这部分工作帮我们做了，但是掌握各种基本电路结构的原理还是对我们debug能起到事半功倍的作用的，它能够帮助我们不仅仅只能从电路里面trace，而是能够排除掉很多模块的问题，更加准确的定位bug点，说来说去万变不离其宗，虽然IC现在划分出了很多岗位，当时DFT和验证工程师懂一些设计还是有很大的帮助的。