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芯片DFT之一天一道面试题_D5

已有 892 次阅读| 2021-3-26 17:53 |系统分类:芯片设计

什么叫做Test ready Compile?为什么要做test ready compile?

test ready compile即使在综合时compile -scan  这样综合就会将普通的register替换成scanable的registers,方便在insert dft时将能上chain的cells通过si pin进行连接。当你执行网compile -scan后report_scan_state就会报告说已经test ready了。

这里面要注意的就是如果综合的过程中你用了多次compile,那么如果第一次加了-scan,那么后续的compile也要加上这个选项。


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